Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
- ブランド: John Wiley & Sons Inc
在庫あり
以下の支払い方法を利用することができます
説明
- ブランド: John Wiley & Sons Inc
- カテゴリー: コンピューター、インターネット
-
フォーマット: Hardback
-
刊行日: 2023-03-22
-
ページ数: 640
-
著者: Alvin W. Strong (IBM)
-
言語: English
-
出版社 / レコード会社: John Wiley & Sons Inc
- Fruugo ID: 434363568-911570901
- ISBN: 9780471731726
配送と返品
6日間以内に発送
-
STANDARD: ￥4,149 - 間の配達 金 12 12月 2025–木 01 1月 2026
イギリスより発送。
ご注文の商品は、お客様の仕様に従い、万全の状態で配送されるように最善を尽くしています。しかし、もし注文に抜けがあったり、注文したものと違う商品が届いたり、注文に満足できないその他の理由がある場合は、注文全体やその中のいずれかの商品を返品し、その全額の返金を受けることができます。 全額返金ポリシーを見る