Yield Simulation for Integrated Circuits

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説明

1. Introduction. - 2. Background. - 3. Defect Models. - 4. Defect Statistics. - 5. Fault Analysis. - 6. VLASIC Implementation. - 7. Redundancy Analysis System. - 8. Fabrication Data. - 9. Conclusions and Current Research. - References. Language: English
  • ブランド: Unbranded
  • カテゴリー: コンピューター、インターネット
  • フォーマット: Paperback
  • 刊行日: 2010/12/10
  • アーティスト: D.M. Walker
  • ページ数: 209
  • 言語: English
  • 出版社 / レコード会社: Springer
  • Fruugo ID: 337854104-741512756
  • ISBN: 9781441952011

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