Advanced Materials Characterization Basic Principles Novel Applications An - Ch Sateesh Kumar

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Advanced Materials Characterization Basic Principles Novel Applications An - Ch Sateesh Kumar

The Book Covers Various Methods Of Characterization Of Advanced Materials Commonly In Engineering Including Understanding Of The Working Principle And Applicability Of Devices. Major Instruments Covered Include X-ray Diffraction, Nsom Raman, X-ray Photo Spectroscopy, Uv-vis- Nir Spectrosphotometer, Ftir Spectroscopy, And So Forth.
  • ブランド: Unbranded
  • カテゴリー: 科学、医学、自然
  • フォーマット: Paperback
  • 刊行日: 2024-11-29
  • ページ数: 144
  • 著者: Ch Sateesh Kumar
  • 言語: English
  • 出版社 / レコード会社: Taylor & Francis Ltd
  • Fruugo ID: 435172461-912813409
  • ISBN: 9781032375113
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