Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
- ブランド: John Wiley & Sons Inc
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説明
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
- ブランド: John Wiley & Sons Inc
- カテゴリー: 科学、医学、自然
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フォーマット: Hardback
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刊行日: 2024-10-09
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ページ数: 528
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著者: Greg Haugstad
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言語: English
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出版社 / レコード会社: John Wiley & Sons Inc
- Fruugo ID: 434362151-911569499
- ISBN: 9780470638828
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