High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability
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High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability
Part I: Preliminaries And Previous Work.- Circuits And Testing.- Boolean Satisfiability.- Atpg Based On Boolean Satisfiability.- Part Ii: Sat Techniques And Their Application In Atpg.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part Iii: High Quality Delay Test Generation.- High Quality Atpg For Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary And Outlook.
- ブランド: Springer Nature B.V
- カテゴリー: コンピューター、インターネット
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フォーマット: Paperback
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刊行日: 2014-10-20
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ページ数: 212
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著者: Stephan Eggersgl
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言語: English
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出版社 / レコード会社: Springer Nature B.V
- Fruugo ID: 557057426-1125325917
- ISBN: 9781489988478
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