High Resolution X-ray Diffractometry And Topography
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High Resolution X-ray Diffractometry And Topography
The Rapid Growth In The Applications Of Electronic Materials Has Created An Increasing Demand For Reliable Techniques For Examining And Characterizing These Materials. This Book Explores The Area Of X-ray Diffraction And The Techniques Available For Deployment In Research, Development, And Production. It Maps The Theoretical And Practical Background Necessary To Study Single Crystal Materials Using High Resolution X-ray Diffraction And Topography.
- ブランド: Taylor & Francis Ltd
- カテゴリー: コンピューター、インターネット
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フォーマット: Paperback
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刊行日: 2019-10-10
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ページ数: 264
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著者: D.K. Bowen
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言語: English
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出版社 / レコード会社: Taylor & Francis Ltd
- Fruugo ID: 550920494-1115598663
- ISBN: 9780367400637
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