Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

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Over The Nearly 20 Years Of Kelvin Probe Force Microscopy, An Increasing Interest In The Technique And Its Applications Has Developed. This Book Gives A Concise Introduction Into The Method And Describes Various Experimental Techniques. Surface Potential Studies On Semiconductor Materials, Nanostructures And Devices Are Described, As Well As Application To Molecular And Organic Materials.
  • Fruugo ID: 557245871-1125515704
  • ISBN: 9783642271137
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