Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek
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Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek
This Book Describes Efficient Techniques For Production Testing As Well As For Periodic Maintenance Testing (specifically In Terms Of Multi-cell Faults) In Modern Semiconductor Memory. The Author Discusses Background Selection And Address Reordering Algorithms In Multi-run Transparent March Testing Processes. Formal Methods For Multi-run Test Generation And Many Solutions To Increase Their Efficiency Are Described In Detail.
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- カテゴリー: 科学、医学、自然
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フォーマット: Paperback
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刊行日: 2019-02-01
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ページ数: 148
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著者: Ireneusz Mrozek
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言語: English
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出版社 / レコード会社: Springer Nature B.V
- Fruugo ID: 469761503-983716427
- ISBN: 9783030081980
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