Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests
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Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests
Supply Noise (including Ir-drop, Ground Bounce, And Ldidt) Effects On Chip Performance, High Test Pattern Volume, Low Faultdefect Coverage, Small Delay Defect Test Pattern Generation, High Cost Of Test Implementation And Application, And Utilizing Low-cost Testers Are Among These Challenges.
- ブランド: Springer Nature B.V
- カテゴリー: コンピューター、インターネット
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フォーマット: Hardcover
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刊行日: 2008-01-16
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ページ数: 304
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著者: Mohammad Tehranipoor
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言語: English
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出版社 / レコード会社: Springer Nature B.V
- Fruugo ID: 550925722-1115603932
- ISBN: 9780387764863
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