Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition
販売元:
￥19,990
在庫あり
+ 配送料￥5,049
14日間返品ポリシー
支払い方法:
- ブランド: Springer Nature B.V
商品詳細
商品詳細
Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition
This Text Provides Students As Well As Practitioners With A Comprehensive Introduction To The Field Of Scanning Electron Microscopy (sem) And X-ray Microanalysis. The Authors Emphasize The Practical Aspects Of The Techniques Described. Topics Discussed Include User-controlled Functions Of Scanning Electron Microscopes And X-ray Spectrometers And The Use Of X-rays For Qualitative And Quantitative Analysis.
- ブランド: Springer Nature B.V
- カテゴリー: コンピューター、インターネット
-
フォーマット: Paperback
-
刊行日: 2013-05-31
-
ページ数: 720
-
著者: Joseph Goldstein
-
言語: English
-
出版社 / レコード会社: Springer Nature B.V
- Fruugo ID: 557060563-1125329059
- ISBN: 9781461349693
配送
配達
24時間以内に発送
-
STANDARD: ￥5,049 - 間の配達 火 17 11月 2026–金 20 11月 2026
イギリスより発送。
返品
返品
ご注文の商品は、お客様の仕様に従い、万全の状態で配送されるように最善を尽くしています。しかし、もし注文に抜けがあったり、注文したものと違う商品が届いたり、注文に満足できないその他の理由がある場合は、注文全体やその中のいずれかの商品を返品し、その全額の返金を受けることができます。