Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
  • ブランド: John Wiley & Sons Inc
  • カテゴリー: 科学、医学、自然
  • フォーマット: Hardback
  • 刊行日: 2023-05-02
  • ページ数: 288
  • 著者: Wai Kin Chim (National University of Singapore)
  • 言語: English
  • 出版社 / レコード会社: John Wiley & Sons Inc
  • Fruugo ID: 434363592-911570923
  • ISBN: 9780471492405

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